LC、晶体正弦波振荡电路实验
一、 实验目的
10. 进一步学习掌握正弦波振荡电路的相关理论。
11. 掌握电容三点式LC振荡电路的基本原理,熟悉其各元件功能;熟悉静态工作点、耦合电容、反馈系数、等效Q值对振荡器振荡幅度和频率的影响。
12. 比较LC振荡器和晶体振荡器频率稳定度,加深对晶体振荡器频率稳定高的原因理解。
二、实验使用仪器
1.LC、晶体正弦波振荡电路实验板
2.20MH双踪示波器
3. 万用表
三、实验基本原理与电路
1. LC振荡电路的基本原理
LC振荡器实质上是满足振荡条件的正反馈放大器。LC振荡器是指振荡回路是由LC元件组成的。从交流等效电路可知:由LC振荡回路引出三个端子,分别接振荡管的三个电极,而构成反馈式自激振荡器,因而又称为三点式振荡器。如果反馈电压取自分压电感,则称为电感反馈LC振荡器或电感三点式振荡器;如果反馈电压取自分压电容,则称为电容反馈LC振荡器或电容三点式振荡器。
在几种基本高频振荡回路中,电容反馈LC振荡器具有较好的振荡波形和稳定度,电路形式简单,适于在较高的频段工作,尤其是以晶体管极间分布电容构成反馈支路时其振荡频率可高达几百MHZ~GHZ。
普通电容三点式振荡器的振荡频率不仅与谐振回路的LC元件的值有关,而且还与晶体管的输入电容




串联改进型电容三点式振荡电路——克拉泼电路
![]() |


其中


选





这就使



振荡幅度取决于折合到晶体管



由上式看出,









并联改进型电容三点式振荡电路——西勒电路回路谐振频率


其中,回路总电容


选






折合到晶体管输出端的谐振电阻


其中接入系数








2. 晶体振荡电路的基本原理
石英晶体振荡器就是以石英晶体谐振器取代



由石英谐振器(石英晶体振子)构成的振荡电路通常叫“晶振电路”。从晶体在电路中的作用来看分两类:一类是工作在晶体并联谐振频率附近,晶体等效为电感的情况,叫做“并联晶振电路”。另一类是工作在晶体串联谐振频率附近,晶体近于短路的情况,叫做“串联晶振电路”。
本实验采用“并联晶振电路”这种电路由晶体与外接电容器或线圈构成并联谐振回路,按三点线路的连接原则组成振荡器,晶体等效为电感。在理论上可以构成三种类型基本电路,但在实际应用中常用的是如图4-3所示的电路,称“皮尔斯”电路。这种电路不需外接线圈,而且频率稳定度较高。


图4-3 并联晶体振荡器原理电路图 4--4 并联晶体振荡器实例





图4-5是图4-4 中谐振回路的等效电路。
该谐振回路的电感就是

应由






图4-5 图4-4中谐振回路的等效电路

选择电容时,




所以











3.实验电路
LC、晶体正弦波振荡电路实验电路如图4-6。断开J1、连接J2、J3构成LC西勒电路振荡电路;断开J2、连接J1、J3构成并联型晶体正弦波振荡电路。

图4-6 LC、晶体正弦波振荡电路实验电路
四、实验内容
1.LC振荡器性能测试。
2.并联晶体振荡器性能测试
3.LC振荡器和晶体振荡器性能比较。
五、实验步骤
1.LC振荡器性能测试
在实验箱主板上插上LC、晶体正弦波振荡电路实验模块。接通实验箱上电源开关电源指标灯点亮。断开J1、连接J2、J3构成LC西勒振荡电路。
(1)测试静态工作点变化对振荡器工作状态的影响
调整RW1,由TP1测试T1发射极电流,观测发射极电流改变对振荡频率和幅度的影响。(R4=1K)。IEQ(mA)=V(TP1)/R4
表4-1静态工作点变化对振荡器工作的影响
IEQ(mA) | ||||||||
f(MHz) | ||||||||
Vp-p(V) |
(2)振荡器频率范围的测量
用小起子调整微调电容CV1值(2/25p),同时用频率计在OUT端测量输出振荡信号的频率值,观测振荡频率的改变。(注意微调电容表面扇形镀银部分,从相对另一引出脚最近到最远,每转动180度即完成容量最大到最小的全过程,多旋动是没有意义的,只会加速元件的磨损)
表4-2 振荡器频率范围的测量
f(MHz) | Vp-p(V) | |
Cmin | ||
Cmax |
(3)反馈系数对振荡器工作状态的影响
J3、J4、J5不同组合可构成多种反馈系数,观测反馈系数对振荡器工作状态的影响。
表4-3 反馈系数对振荡器工作状态的影响
F | |||||
f(MHz) | |||||
Vp-p(V) |
(4)频率稳定度的测量
(a) 短期频率稳定度的测量
用频率计在OUT端测量振荡频率,观察1分钟左右振荡频率f0的变化情况,并记录两个频率值f01(开始值),f02(最大变化值)。计算LC振荡器的短期频率稳定度Δf0/f0
表4-4短期频率稳定度的测量
f01(开始值MHz) | f02(最大变化值MHz) | 短期频率稳定度Δf0/f0 |
(b) 观察温度变化对振荡频率的影响。(若无电吹风,可不作该实验)
用电吹风在距电路15cm处对着电路吹热风,用频率计在OUT端测量振荡频率,观察1分钟左右振荡频率f0的变化情况,
表4-4短期频率稳定度的测量
室温f01 MHz | 加温后f02 MHz | 频率稳定稳定度Δf0/f0 |
2.晶体正弦波振荡器性能测试
在实验箱主板上插上LC、晶体正弦波振荡电路实验模块。接通实验箱上电源开关电源指标灯点亮。断开J2、连接J1、J3构成LC晶体并联振荡电路。
(1)测试静态工作点变化对振荡器工作状态的影响
调整RW1,由TP1测试T1发射极电流,观测发射极电流改变对振荡频率和幅度的影响。(R4=1K)。
表4-1静态工作点变化对振荡器工作的影响
IEQ(mA) | ||||||||
f(MHz) | ||||||||
Vp-p(V) |
(2)振荡器频率范围的测量
用小起子调整微调电容CV1值(2/25p),同时用频率计在OUT端测量输出振荡信号的频率值,观测振荡频率的改变。
表4-2 振荡器频率范围的测量
f(MHz) | Vp-p(V) | |
Cmin | ||
Cmax |
(3)反馈系数对振荡器工作状态的影响
J3、J4、J5不同组合可构成多种反馈系数,观测反馈系数对振荡器工作状态的影响。
表4-3 反馈系数对振荡器工作状态的影响
F | |||||
f(MHz) | |||||
Vp-p(V) |
(4)频率稳定度的测量
(a) 短期频率稳定度的测量
用频率计在OUT端测量振荡频率,观察1分钟左右振荡频率f0的变化情况,并记录两个频率值f01(开始值),f02(最大变化值)。计算LC振荡器的短期频率稳定度Δf0/f0
表4-4短期频率稳定度的测量
f01(开始值MHz) | f02(最大变化值MHz) | 短期频率稳定度Δf0/f0 |
(b) 观察温度变化对振荡频率的影响。(若无电吹风,可不作该实验)
用电吹风在距电路15cm处对着电路吹热风,用频率计在OUT端测量振荡频率,观察1分钟左右振荡频率f0的变化情况,
表4-4短期频率稳定度的测量
室温f01 MHz | 加温后f02 MHz | 频率稳定稳定度Δf0/f0 |
六、实验报告要求
1.整理按实验步骤所得的数据,绘制记录的波形
2.画出工作点和反馈系数对LC振荡器和晶体振荡器振荡频率和幅值的影响曲线 ,比较两者的区别。
3.总结由本实验所获得的体会。